Ga naar de inhoud
Services
Onderzoek & innovatie
Chemistry
Advanced materials
Sustainable materials
Processing & performance
Analyse & Advies
Apparatuur & Technieken
Laboratoria
Cursussen
Cursussen op maat
PTN cursussen
Publicaties
Nieuws
Voorbeeld projecten
Wetenschappelijke publicaties
Patenten
Video
Over ons
Onze missie / visie
TU/e campus
Vacatures
Contact
NL
EN
NL
EN
Zoeken
Zoeken
Sluit dit zoekvak.
Scanning Electron Microscopy (SEM)
Karakterisatie
Merk
Quanta 3D FEG
Magnification
30x to 1.000.000x
Combined with
Energy Dispersive X-Ray (EDX) for elemental analysis.
Typical Sample size
<1 µm – 2 cm
Uitvoer
High resolution images
Present elements
Meer Apparatuur & Technieken
Door deze website te gebruiken, gaat u akkoord met ons gebruik van cookies. We gebruiken cookies om onze website goed te laten werken.
Akkoord
Privacy verklaring